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X射線線陣探測器-iLX 係列
iLX係列為高性能4級TDI CMOS 線陣探測器,比傳統單線光電二極管技術,有更高的信噪比以及更高的分辨率,廣泛應用於科學研究及工業X射線掃描檢測。通過千兆以太網接口實現高速實時圖像傳輸,探測器具有高靈敏度、高幀率、高分辨率等特點,同時采用獨特的像素設計,具有極高的抗輻照能力。
特點:
· 0.2mm/0.4mm像素大小
· 14bit數據傳輸
· 最高速可達2.4m/s
· 在低劑量下仍具有極高的信噪比
· 傑出的抗輻照能力
應用:
PCB檢測
電池檢測
無損檢測
礦選
食品檢測
詳細參數
參數 參數值
型號 iLX410K6-02G1 iLX614K6-02G1 iLX410K6-04G1 iLX614K6-04G1
X射線能量範圍 25~450 kV
閃爍體類型 GOS
有效感光區域長度(其他長度可定製) 410mm 614mm 410mm 614mm
像素大小 0.2 × 0.2mm 0.4 × 0.4mm
橫向像素數量 2048 3072 1024 1536
最大TDI級數 4 2
最大掃描速度 12m/s 2.4m/s
最小積分時間 100us
最大積分時間 100ms
A/D轉換器 14 bit
動態範圍 > 4000
接口 千兆以太網
觸發模式 外觸發/內觸發
工作電壓 24VDC
功耗 8W 12W 8W 12W
工作溫度 0-40 ℃
儲存溫度 -10-50℃
儲存濕度 30%-80%
量子效率曲線
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